[发明专利]一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法在审
| 申请号： | 201610333762.2 | 申请日： | 2016-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN105842142A | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 胥海洲;孙波;黄晓兴 | 申请（专利权）人： | 深圳市青核桃科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518034 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，该方法包括以下步骤：放入已知直径大小的标准颗粒；激光颗粒计数器对接收到标准颗粒对应的电压信号进行测量；获取标准颗粒的电压信号的具体数值；获取被检测的颗粒的电压信号波形；将获取的标准颗粒产生的电压信号波形以及被检测的颗粒的电压信号波形，并通过电压信号波形之间的差异与颗粒直径的对应关系，获取被检测的颗粒的尺寸。本发明的有益效果是：提高了校准的准确度，排除了标准设备自身的误差以及颗粒在空间分布不均匀对校准结果造成的干扰；其次实现了纯自动化校准，提高校准结果的准确性和校准的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 单一 标准 颗粒 激光 计数器 进行 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，其特征在于，包括以下步骤：放入已知直径大小的标准颗粒；激光颗粒计数器对接收到标准颗粒对应的电压信号进行测量；获取标准颗粒的电压信号的具体数值；获取被检测的颗粒的电压信号波形；将获取的标准颗粒产生的电压信号波形以及被检测的颗粒的电压信号波形，并通过电压信号波形之间的差异与颗粒直径的对应关系，获取被检测的颗粒的尺寸。
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