[发明专利]一种交叉斜采样模式高分辨率成像方法有效
| 申请号： | 201610317886.1 | 申请日： | 2016-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN105973205B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 李云涛;丁丹;廖育荣;柴黎;姜明勇 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军装备学院 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 张瑜;仇蕾安 |
| 地址： | 101416*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
一种交叉斜采样模式高分辨率成像新方法，其在成像焦平面上放置一对交叉的线阵探测器，且所述一对交叉的线阵探测器与常规线阵方向分别呈θ角和(180‑θ)角，所述一对交叉的线阵探测器的中心位置之间的垂直间距为 |
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| 搜索关键词： | 一种 交叉 采样 模式 高分辨率 成像 新方法 | ||
【主权项】：
1.一种交叉斜采样模式高分辨率成像方法，其特征在于，在成像焦平面上放置一对交叉的线阵探测器，且所述一对交叉的线阵探测器与常规线阵方向分别呈θ角和(180°‑θ)角，所述一对交叉的线阵探测器的中心位置之间的垂直间距为![]()
然后进行图像数据采集，设线阵探测器沿扫描向的采样间距变为L/n，则采样网络的两个基本矢量分别为V1＝(Lcosθ,Lsinθ)T和![]()
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即采样密度为![]()
L为常规采样时探测器的采样间距，n为调节相机扫描方向采样间距大小的系数。
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