[发明专利]一种相萃取法中金纳米粒子表面所需正-负离子对的测定方法在审
| 申请号： | 201610310610.0 | 申请日： | 2016-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN106018295A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 成汉文;罗谨;沈晓瑜;张钰琳;刘心月;盛情;慎可可 | 申请（专利权）人： | 上海应用技术学院 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 杨军 |
| 地址： | 200235 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种相萃取法中金纳米粒子表面所需正‑负离子对的测定方法。本发明先由金纳米粒子表面组装上结合强度高的第一覆盖剂，然后再使用另一种携带负电荷的第二覆盖剂，接着利用携带正电荷的交联剂通过正‑负离子(形成“离子对”)的静电作用将金纳米粒子从水相转移到有机相中，通过分光光度法测定纳米粒子从水相萃取到有机相的程度，并通过变化覆盖剂和交联剂的浓度及比例，确定交联剂最低使用量，从而确定相萃取过程中纳米粒子表面所需正‑负离子对的最小数量。本发明利用简单的分光光度滴定法对其数量实现定量测定，其对纳米技术领域中纳米粒子表面覆盖剂的设计与制备具有重要的指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 萃取 法中金 纳米 粒子 表面 离子对 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种相萃取法中金纳米粒子表面所需正‑负离子对的测定方法，其特征在于，其首先在金纳米粒子表面组装上第一覆盖剂，然后再使用携带有负电荷的第二覆盖剂取代一部分的第一覆盖剂，形成同时携带有第一和第二覆盖剂的纳米金粒子，接着利用携带有正电荷的交联剂通过其与携带有负电荷的第二覆盖剂进行静电吸附，进而将金纳米粒子从水相转移到有机相中，通过分光光度法测定金纳米粒子从水相萃取到有机相的程度，并通过变化第一覆盖剂、第二覆盖剂和交联剂的浓度及比例，确定出交联剂的最低使用量，从而确定相萃取过程中金纳米粒子表面所需正‑负离子对的最小数量。
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