[发明专利]撷取动态振动频率的方法有效
申请号: | 201610295312.9 | 申请日: | 2016-05-06 |
公开(公告)号: | CN106855432B | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 詹家铭;吴文杰 | 申请(专利权)人: | 财团法人金属工业研究发展中心 |
主分类号: | G01H17/00 | 分类号: | G01H17/00 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 马廷昭 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种撷取动态振动频率的方法,包括下列步骤:选用至少五双振动量测元件;决定该第一双至第五双振动量测元件带宽范围;将该第一双至第五双振动量测元件依序在一主轴的几何结构对称的第一侧及第二侧,以对称式布点方式進行振动位移量的量测;校正该第一侧及第二侧的其中一者的该第一至第五振动量测元件所量测的振动位移量,以差动消除产生环境干扰的噪声;计算出位于该第一侧及第二侧的至少一双节点的位置;利用前述步骤的该些振动位移量以推算出一双主谐波的动态振动频率;以及确认该主轴的振动模态。本发明的方法可以快速量测切削过程中的动态振动频率,并可以清楚了解切削动态振动频率、模态、以及节点位置。 | ||
搜索关键词: | 撷取 动态 振动 频率 方法 | ||
【主权项】:
1.一种撷取动态振动频率的方法,其特征在于,其包括下列步骤:选用至少五双振动量测元件,其包括第一双振动量测元件至第五双振动量测元件,其中该第一双振动量测元件包括两个第一振动量测元件,该第二双振动量测元件包括两个第二振动量测元件,依此类推;决定该第一双振动量测元件至第五双振动量测元件带宽范围;将该第一双振动量测元件至第五双振动量测元件依序在一主轴的几何结构对称的第一侧及第二侧,以对称式布点方式进行振动位移量的量测;利用该第一双振动量测元件之间、该第三双振动量测元件之间或该第五双振动量测元件之间所量测的振动位移量差值,计算出该第一双振动量测元件之间所量测的一第一振动位移量差值、该第三双振动量测元件之间所量测的一第三振动位移量差值及第五双振动量测元件之间所量测的一第五振动位移量差值,其中该第一、第三及第五振动位移量差值皆视为至少一噪声所产生的环境干扰值;比较同一侧的该第一、第三及第五振动量测元件所量测的振动位移量,以得出一最小振动位移量,视为一最小振幅,其中对应该最小振动位移量的该第一、第三及第五振动量测元件的其中一者的位置视为最接近节点,且对应该最小振动位移量的该第一、第三及第五振动位移量差值的其中一者视为最接近该噪声所产生的环境干扰值;再比较该第一侧及第二侧的第一、第三及第五振动量测元件所量测的振动位移量,以得出该第一、第三及第五振动量测元件所量测的振动位移量较大的一侧;以及以最接近该噪声所产生的环境干扰值作为校正振动位移量较大的该侧的该第一振动量测元件至第五振动量测元件所量测的振动位移量,进行校正该第一侧及第二侧的其中一者的该第一振动量测元件至第五振动量测元件所量测的振动位移量,以差动消除产生环境干扰的噪声;利用该第二双振动量测元件及第四双振动量测元件的已校正及未校正的振动位移量对该第一双振动量测元件、该第三双振动量测元件、及该第五双振动量测元件的已校正及未校正的振动位移量进行内插法计算,用以计算出位于该第一侧及第二侧的至少一双节点的位置;利用前述步骤的这些振动位移量以推算出一双主谐波的动态振动频率;以及确认该主轴的振动模态。
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