[发明专利]一种转移式分类的高速分选方法在审
申请号: | 201610278114.1 | 申请日: | 2016-04-29 |
公开(公告)号: | CN105834116A | 公开(公告)日: | 2016-08-10 |
发明(设计)人: | 卓维煌;黄新青;刘骏;蔡建镁;齐建;徐思江 | 申请(专利权)人: | 深圳市华腾半导体设备有限公司 |
主分类号: | B07C5/00 | 分类号: | B07C5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种转移式分类的高速分选方法,其中包括转盘、转料机构、分料盘。其特征在于,元器件在转盘上测试后不在转盘上落料分类,而是将元器件转移至分料盘上进行。分选机关键动作流程包括元器件上料、测试、落料、分类等,传统方式是各项工艺流程围绕转盘呈输入输出逻辑关系完成,而落料及分类已成为目前分选机的技术瓶颈。转移式分类的分选方式与直接在转盘上落料分类不同,在转盘上落料分类时,周期时间需加上落料及分类的时间,速度上已难于有大的提升。而转移式分类的分选方式是将落料及分类的过程转移至分料盘上进行,转盘只承载元器件上料及测试的过程,提高整机的运行速度及稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 转移 分类 高速 分选 方法 | ||
【主权项】:
一种转移式分类的高速分选方法,其特征在于,在转盘后设计分料盘,将分选机对元器件的关键工艺流程,如上料、测试、落料、分类过程进行分解,元器件的上料与测试在转盘上完成,保证测试精度,再将测试后的元器件转移至分料盘进行落料与分类;分料盘的数量不局限于一个,可根据设备性能或客户需求设计分料盘数或单分料盘的BIN数;具体包括:步骤1)元器件通过上料机构进入转盘,并在转盘上完成测试;步骤2)在转盘后设计分料盘,测试后的元器件通过转料机构从转盘转移至分料盘;步骤3)元器件在分料盘上进行落料与分类;其中,所述分料盘的数量、大小、材质及单分料盘的BIN数可根据设备性能或客户需求设计。
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