[发明专利]一种基于UVM的存储控制器功能测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 201610266445.3 申请日: 2016-04-26
公开(公告)号: CN105893202A 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 高亚力 申请(专利权)人: 浪潮(北京)电子信息产业有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26;G06F11/273;G06F11/277
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于UVM的存储控制器功能测试方法,包括:设置UVM环境的预定参数;其中,所述预定参数包括:UVM环境内部变量,随机化约束,被测存储控制器对应的地址信息和控制信号;利用所述预定参数生成测试激励;将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中,并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出;对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比,得到测试结果;该方法中的测试环境可以无缝集成到系统测试环境中,从而提高了验证效率,缩短了验证周期,实现可重用测试;本发明还公开了一种基于UVM的存储控制器功能测试系统。
搜索关键词: 一种 基于 uvm 存储 控制器 功能 测试 方法 系统
【主权项】:
一种基于UVM的存储控制器功能测试方法,其特征在于,包括:设置UVM环境的预定参数;其中,所述预定参数包括:UVM环境内部变量,随机化约束,被测存储控制器对应的地址信息和控制信号;利用所述预定参数生成测试激励;将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中,并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出;对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比,得到测试结果。
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