[发明专利]表面富硒的NiSe2纳米片、其制备方法及用途有效

专利信息
申请号: 201610258568.2 申请日: 2016-04-22
公开(公告)号: CN105947995B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 何军;王枫梅;程中州 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: C01B19/04 分类号: C01B19/04
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 巩克栋;侯潇潇
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种表面富硒的NiSe2纳米片的制备方法,属于无机半导体纳米材料技术领域。本发明先合成Ni(OH)2薄片,然后在高温下硒(Se)化得到表面富硒的NiSe2纳米片。本发明所合成的富硒的NiSe2纳米片化学性稳定、结晶性好、析氢性能优良,同时,本发明所述方法制备工艺简单,操作方便且成本低,利用本发明方法可制造电化学析氢半导体材料,应用在新能源领域。
搜索关键词: 表面 nise sub 纳米 制备 方法 用途
【主权项】:
1.一种硒化镍纳米片的制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:使氢氧化镍纳米片和硒粉分别置于双温区管式炉的下游和上游,加热进行硒化反应,对氢氧化镍纳米片进行硒化,得到硒化镍纳米片;其中,所述双温区管式炉的下游的炉温为400~500℃,所述双温区管式炉的上游的炉温为100~300℃;所述双温区管式炉中通有氩气,所述氩气的流量为50~100sccm,所述硒化反应的时间为60~90分钟。
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