[发明专利]一种氡子体测量仪α能谱峰重叠修正因子的准确刻度方法

摘要

本发明公开了一种氡子体测量仪α能谱峰重叠修正因子的准确刻度方法，氡子体测量仪从220Rn子体测量环境采样、静置后利用多道标定测量仪对222Rn子体RaA(218Po)6.0MeV能谱峰计数区的上阈值LV1；氡子体测量仪重新填装滤膜后从纯222Rn子体环境采样；利用多道进行6.0MeV计数区、7.69MeV计数区60‑120min时间段的α粒子计数N11、N12，计算峰重叠因子θ1；氡子体测量仪更换滤膜后从纯222Rn子体环境采样，利用多道标定测量仪对222Rn子体RaC'(214Po)7.69MeV能谱峰计数区的上阈值LV2；氡子体连续测量仪重新装填滤膜后从220Rn室采，利用多道脉冲幅度分析器测量α粒子计数N24、N23、N22，确定峰重叠因子θ2、θ3。

主权项

一种氡子体测量仪α能谱峰重叠修正因子的准确刻度方法，其特征在于，按照以下步骤进行：步骤1，调节氡室222Rn浓度至2000Bq/m3，对应的氡室内222Rn子体活度浓度稳定在200Bq/m3，220Rn子体活度浓度忽略；步骤2，将220Rn室连接一个活度为3000Bq的高射气系数固体220Rn源，调节220Rn子体水平至2000Bq/m3；步骤3，氡子体测量仪装填滤膜后从220Rn室采样15min后，利用多道脉冲幅度分析器，采用1024道，测量氡子体测量仪的α能谱120min，取220Rn子体ThC″(208Tl)6.05MeV能谱峰计数区的上限作为222Rn子体RaA(218Po)6.0MeV能谱峰的上阈值对应的道值LV1；步骤4，氡子体测量仪重新填装滤膜后从222Rn室采样15min后，静置60min，利用多道脉冲幅度分析器进行6.0MeV能谱区计数区0‑LV1道、7.69MeV计数区LV1‑1023道60‑120min时间段的α粒子计数N11、N12；步骤5，更换滤膜重复步骤4，得到两个计数区的计数值，按式(1)计算峰重叠因子θ1；设6.0MeV计数区计数为N11，7.69MeV计数区计数为N12，RaC'(214Po)7.69MeVα粒子能谱峰计数区对RaA6.0MeV计数区重叠因子θ1表示为：步骤6，氡子体测量仪填装滤膜后从222Rn室采样15min，利用多道脉冲幅度分析器测量氡子体测量仪的α能谱105min，测定RaC'(214Po)7.69MeV计数区的上阈值对应的道值LV2；步骤7，氡子体测量仪重新装填滤膜后从220Rn室采样15min后，静置180min待222Rn子体衰变完后，利用多道脉冲幅度分析器测量RaA所在6.00MeV计数区0‑LV1道、RaC'所在7.69MeV计数区LV1‑LV2道以及ThC'所在8.78MeV计数区LV2‑1023道120min的α粒子计数N24、N23、N22；步骤8，更换滤膜重复上述步骤7，得到三个计数区的计数值，最后按式(2)‑式(3)式确定峰重叠因子θ2、θ3；设全谱计数为N21，8.78MeV计数区计数为N22，6.05MeV计数区计数为N23，此时在7.69MeV计数区计数为N24，则8.78MeVα粒子计数慢化到6.0MeVα粒子计数区的峰重叠因子θ2为：8.78MeVα粒子对222Rn、220Rn混合情况下7.69MeVα计数段内的重叠因子θ3表示为：