[发明专利]一种用于亚多普勒DAVLL光谱的反射式集成装置有效
申请号: | 201610221794.3 | 申请日: | 2016-04-11 |
公开(公告)号: | CN105762641B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 姜伯楠;张国万;李嘉华;成永杰;徐程;魏小刚 | 申请(专利权)人: | 北京航天控制仪器研究所 |
主分类号: | H01S3/13 | 分类号: | H01S3/13 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于亚多普勒DAVLL光谱的反射式集成装置,包括激光光源、分光镜、原子气室、亥姆霍兹线圈、反射镜、四分之一波片、检偏器、第一光电探测器和第二光电探测器,其中激光光源发出的激光通过分光镜分成两路,其中一路激光向外出射,另外一路激光通过原子气室后到达反射镜,经反射镜反射后沿原光路返回,依次经过原子气室、分光镜、四分之一波片后到达检偏器,检偏器将激光分成两路偏振方向垂直的激光,由第一光电探测器和第二光电探测器分别接收,本发明增强了亚多普勒DAVLL光谱的稳定性和集成性,显著提高相关具体应用的精度、稳定度和集成度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 多普勒 davll 光谱 反射 集成 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于亚多普勒DAVLL光谱的反射式集成装置,其特征在于:包括激光光源(1)、分光镜(2)、原子气室(3)、亥姆霍兹线圈(4)、反射镜(5)、四分之一波片(6)、检偏器(7)、第一光电探测器(8)和第二光电探测器(9),其中反射镜(5)、原子气室(3)、分光镜(2)、四分之一波片(6)、检偏器(7)和第二光电探测器(9)依次排布,亥姆霍兹线圈(4)缠绕在原子气室(3)外表面,且反射镜(5)、原子气室(3)、分光镜(2)、四分之一波片(6)、检偏器(7)、第二光电探测器(9)和亥姆霍兹线圈(4)的中心位于同一光轴,第一光电探测器(8)设置在检偏器(7)一侧,且第一光电探测器(8)与检偏器(7)的中心所在直线与所述光轴垂直,激光光源(1)位于分光镜(2)的一侧;所述激光光源(1)发出的激光通过分光镜(2)分成两路,其中一路激光向外出射,另外一路激光通过原子气室(3)后到达反射镜(5),经反射镜(5)反射后沿原光路返回,依次经过原子气室(3)、分光镜(2)、四分之一波片(6)后到达检偏器(7),检偏器(7)将激光分成两路偏振方向垂直的激光,由第一光电探测器(8)和第二光电探测器(9)分别接收;所述分光镜(2)为非偏振分束器件,分光镜(2)的分光比为1:99;所述反射镜(5)为全反射镜或部分反射镜,所述全反射镜的反射率为99%,所述部分反射镜的反射率为10%‑90%;所述激光光源(1)的输出功率为101mW。
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