[发明专利]单光谱检测温度场的方法有效

专利信息
申请号: 201610216602.X 申请日: 2016-04-09
公开(公告)号: CN105890795B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 张巍巍;王国耀;高益庆;何兴道 申请(专利权)人: 南昌航空大学
主分类号: G01K11/20 分类号: G01K11/20
代理公司: 南昌洪达专利事务所 36111 代理人: 刘凌峰
地址: 330063 江*** 国省代码: 江西;36
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及荧光测温领域,具体涉及一种单光谱检测温度场的方法。本发明的核心部份是使用本征发光特征不相同的多个温度敏感荧光材料构成多个点温度传感器,激发光照射到各个温度探测点上,各点不同的荧光材料发出的荧光经会聚或合束后进入光谱仪,叠加记录在同一个发射光谱上,该光谱携带了各个探测点的温度信息,从光谱上选取各荧光材料互不干扰的温敏荧光特征,基于各荧光特征的温敏函数解析出各荧光材料所处探测点的实时温度。该实时温度场信息可以用于监控热流过程、分析被测表面的温度均匀性。
搜索关键词: 荧光材料 荧光特征 单光谱 探测点 温度场 荧光 温敏 光谱 点温度传感器 激发光照射 实时温度场 温度均匀性 光谱仪 发光特征 发射光谱 互不干扰 热流过程 温度敏感 温度探测 温度信息 检测 本征 测温 合束 叠加 解析 会聚 携带 监控 记录 分析
【主权项】:
1.一种单光谱检测温度场的方法,包括:使用本征发光特征不相同的多个温度敏感荧光材料,将各荧光材料附着在不同的探测点,激发光照射到各探测点上,各探测点发出的荧光经会聚或合束后进入光谱仪,测得荧光发射光谱,光谱上隶属不同探测点的各荧光特征分别携带了各探测点的温度信息,将各荧光特征数值分别代入各荧光材料的温度传感函数即得到实时温度分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南昌航空大学,未经南昌航空大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610216602.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top