[发明专利]用于调节用于带系统的内插采样间隔的方法和装置有效
| 申请号： | 201610207932.2 | 申请日： | 2016-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN106057216B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | G·舍鲁比尼;S·富勒;R·A·胡钦斯;J·杰利托 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G11B5/584 | 分类号： | G11B5/584 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 酆迅;李峥宇 |
| 地址： | 美国纽*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于调节用于带系统的内插采样间隔的方法和装置。在一个一般实施例中，一种方法包括：使用如下中的至少一个来确定用于内插器的采样间隔：存储在存储器中的预定义数据，和位置误差信号的标准偏差。该方法进一步包括：响应于确定所述采样间隔，将所述采样间隔应用到所述内插器。在另一个一般实施例中，一种装置包括内插器和控制器。所述控制器被配置来：使用如下中的至少一个来确定用于内插器的采样间隔：存储在存储器中的预定义数据，和位置误差信号的标准偏差。所述控制器还被配置来响应于确定所述采样间隔，将所述采样间隔应用到所述内插器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 调节 系统 内插 采样 间隔 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于调节磁带系统的内插采样间隔的方法，包括：使用位置误差信号的标准偏差来确定用于内插器的采样间隔，其中所述位置误差信号是所述磁带系统的磁头的估计的侧向位置和标称值之间的差；以及响应于确定所述采样间隔，将所述采样间隔应用到所述内插器，其中按照以下迭代过程的结果确定所述采样间隔，包括：计算所述位置误差信号的参考标准偏差；将采样间隔增加一个增量ΔT；计算所述位置误差信号的更新后的标准偏差；比较所述参考标准偏差和所述更新后的标准偏差；以及响应于所述参考标准偏差大于所述更新后的标准偏差，将所述更新后的标准偏差存储为所述参考标准偏差。
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