[发明专利]一种平面度检测方法在审
| 申请号： | 201610191731.8 | 申请日： | 2016-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN105865378A | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 尚修森;尚修鑫;孙晓敏;汪旭东 | 申请（专利权）人： | 苏州精创光学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215334 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种平面度检测方法，该方法利用的检测系统由摄像元件、显示元件和图像处理元件组成。首先进行摄像元件标定，再在测量位置放置一块参考平面，在显示元件上显示标准的结构特征图样，并投影在该参考平面上，经反射后由摄像元件进行拍摄，作为参考图样。再将被测平面放在同一位置，同样采用摄像元件拍摄经其反射的图样，就是测量图样。通过测量特征图样与参考标准图样进行对比分析，结合测量系统的结构参数，就可以计算得到被测平面的面形误差分布。本发明的平面度检测方法具有检测精度高、成本低、使用方便和检测系统结构简单的优点，具有广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种平面度检测方法，其特征在于：该方法利用的检测系统包括摄像元件（1）、显示元件（2）和图像处理元件（4），该方法的步骤在于：首先进行摄像元件（1）标定；再将一块参考平面放置于测量位置，在显示元件（2）上显示标准的结构特征图样，并投影到参考平面，反射后被摄像元件（1）所记录，作为参考图样；然后将被测平面（3）放置于同一测量位置，同样采用摄像元件（1）拍摄经其反射的图样，作为测量图样；通过对比分析参考图样与测量图样的差异，结合检测系统的结构参数，就可以计算被测平面（3）的面形误差。
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