[发明专利]一种不同介质厚度的自动测量方法及其测量装置有效

专利信息
申请号: 201610190198.3 申请日: 2016-03-30
公开(公告)号: CN105674869B 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 张素娟;郭爱红;刘永昌 申请(专利权)人: 华北理工大学
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06;G01F23/26
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 063009 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及一种不同介质厚度的自动测量方法及其测量装置,其中方法包括:步骤1:启动电容测量装置,电容测量装置顺序采集多个在垂直方向上阵列分布的电容测键的电容值数据,得到多个电容值数据构成的电容值数据集;步骤2:将电容值数据集存入内存,对电容值数据集进行拐点查找处理,得到至少一个拐点;步骤3:根据所有拐点对应的电容测键的位置计算得到不同介质的厚度,结束测量。本发明可以长时间的无需人工干预的监测淤泥的厚度、水位的高度。本发明准确性高、实时性强、安放简单、后期维护量小,便于大面积广泛投入,用于监测水库、河道、管道的淤泥厚度、水位高度,以及库容计算和水量计量。
搜索关键词: 一种 不同 介质 厚度 自动 测量方法 及其 测量 装置
【主权项】:
1.一种不同介质厚度的自动测量装置,其特征在于,包括主控器、供电模块、电容测量装置、多个电容测键、电路板、金属外壳和固定钢杆;所述主控器控制供电模块为电容测量装置供电,并启动电容测量装置;所述电容测量装置用于根据主控器的驱动顺序测量每个电容测键的电容值,得到多个电容值数据构成电容值数据集,并将电容值数据集存入主控器的内存中;所有所述电容测键在垂直方向上阵列分布;所述主控器对内存中的电容值数据集进行拐点查找处理,得到至少一个拐点,并根据所有拐点对应的电容测键的位置计算得到不同介质的厚度;所有所述电容测键均匀阵列在电路板正面,所述电路板反面设置电容测量装置;所述金属外壳和电路板共同构成封闭柱状结构;所述电路板反面与金属外壳共同构成一个封闭腔体;所述供电模块设置在封闭腔体内;所述封闭腔体接近顶部的内部设有主控器;所述封闭腔体底部与固定钢杆相连接;所述固定钢杆用于固定自动测量装置的位置;所有所述电容测键设置在多个电路板上,两个所述电路板之间通过键容电路扩展连接焊盘连接;还包括辅助连接铜柱,所述辅助连接铜柱用于辅助键容电路扩展连接焊盘连接两个所述电路板;所述外壳内部填充有海绵体和密封树脂,所述海绵体用于固定供电模块的位置;所述密封树脂用于使外壳内密封。
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