[发明专利]一种集成于USB3.0测试卡的IC开短路测试系统在审
| 申请号： | 201610149626.8 | 申请日： | 2016-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN105823956A | 公开（公告）日： | 2016-08-03 |
| 发明（设计）人： | 钟岳良;夏远洋;林浩 | 申请（专利权）人： | 昆山软龙格自动化技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成于USB3.0测试卡的IC开短路测试系统，其包括主控电路、低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器。该视频处理器通过该模数转换器电性连接该主控电路，该低压CMOS器件电性连接该主控电路。该主控电路提供AD信号和DA信号，由DA信号给系统提供基准电平，并由被测芯片的管脚数据AD获得被测量数据，该主控电路通过被测量数据控制测试卡的每路开关的切换，从而根据不同的测试条件切换对应的开关。本发明可通过恒流源高精度检测开短路特性，并且适用于高速信号的开短路测试，如MIPI、LVDS等高速差分信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 usb3 测试 ic 短路 系统 | ||
【主权项】：
一种集成于USB3.0测试卡的IC开短路测试系统，其特征在于：其包括主控电路、低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器；该视频处理器通过该模数转换器电性连接该主控电路，该低压CMOS器件电性连接该主控电路；该主控电路提供AD信号和DA信号，由DA信号给系统提供基准电平，并由被测芯片的管脚数据AD获得被测量数据，该主控电路通过被测量数据控制测试卡的每路开关的切换，从而根据不同的测试条件切换对应的开关。
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