[发明专利]一种白光干涉原子力探针系统的成像自动调整装置及其控制方法有效
申请号: | 201610145779.5 | 申请日: | 2016-03-15 |
公开(公告)号: | CN105699704A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 卢文龙;曾春阳;刘晓军;庾能国;杨文军;周莉萍;常素萍 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01Q60/24 | 分类号: | G01Q60/24 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于白光干涉原子力探针扫描显微镜探针系统的成像自动调整装置自动及其控制方法,该装置主要包括计算机,夹持机构及铰链机构,原子力探针及其探针组件,白光干涉显微系统,面CCD光路连接筒。在白光干涉原子力探针显微镜连接完成的情况下,根据面CCD上探针的成像与面CCD坐标系的水平夹角,通过计算机来控制舵机偏转一定的角度,使得原子力探针在面CCD中的成像与面CCD坐标系中的夹角在误差范围内,从而得到测量的结果有较小的测量误差。本发明可以实现探针在面CCD中的成像的自动调整,具有便捷控制,控制精度高,操作简单的优势。 | ||
搜索关键词: | 一种 白光 干涉 原子 探针 系统 成像 自动 调整 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种基于白光干涉原子力探针扫描显微镜探针系统的成像自动调整装置,其特征在于,其中白光干涉原子力探针扫描显微镜探针系统包括面CCD测量系统(8)、原子力扫描探针(1)及其探针组件(2)、白光干涉显微系统(11)以及计算机(12);所述原子力探针组件(2)通过机架(4)固定,垂直电机位移平台(5)设置于所述机架(4)之上用于实现所述原子力探针组件(2)的调整,所述机架(4)一侧通过面CCD光路连接筒(6)与所述面CCD测量系统(8)联通,通过一夹持机构(7)夹持所述面CCD光路连接筒(6)与舵机(10)相连,通过所述舵机(10)实现所述面CCD光路连接筒(6)的调整从而调整成像;所述白光干涉显微系统(11)接收所述计算机(12)的控制产生测试的白光干涉光源传输于所述原子力扫描探针组件(2)的微悬臂上形成白光干涉条纹,其包含所述原子力探针组件上的所述探针(1)的形变信息,所述面CCD测量系统(8)接收所述白光干涉系统(11)形成的图像,并且实时计算所述探针(1)在所述面CCD测量系统(8)中的夹角变化;所述计算机(12)还包括舵机控制模块及面CCD测量系统控制模块,所述舵机控制模块接收所述计算机(12)的指令来实现所述舵机(10)的运动从而实现成像的自动调整,所述面CCD测量系统控制模块控制所述面CCD测量系统(8)完成成像图像采集及成像夹角的实时计算。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610145779.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:洗液瓶
- 下一篇:利用表面起皱测量偶氮苯薄膜光软化的方法