[发明专利]一种基于金刚石NV色心的微波磁场测量系统有效
申请号: | 201610137931.5 | 申请日: | 2016-03-10 |
公开(公告)号: | CN105823994B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 袁振亨;王鹏飞;王孟祺;石发展;秦熙;段昌奎;杜江峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张忠魁;王宝筠 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本申请公开了一种基于金刚石NV色心的微波磁场测量系统,该系统用于对待测微波的微波磁场进行测量。具体包括共聚焦显微装置、精密位移装置、静磁场调节装置、具备NV色心的金刚石和信号处理装置,精密位移装置用于控制发射待测微波的微波源与NV色心的相对位移,静磁场调节装置用于控制施加在所述金刚石上的静磁场的场强;共聚焦显微装置用于利用预设波长的激光激发该NV色心的电子状态,记录所述NV色心发出的荧光,并输出反映该荧光的荧光信号;信号处理装置用于根据荧光信号重构待测微波在纳米量级分辨率的微波磁场矢量,从而能够实现对待测微波的微波磁场的矢量测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 金刚石 nv 色心 微波 磁场 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于金刚石NV色心的微波磁场测量系统,其特征在于,包括共聚焦显微装置、精密位移装置、静磁场调节装置、具备NV色心的金刚石和信号处理装置,其中:所述精密位移装置用于控制微波源与所述NV色心的相对位移,所述微波源用于发射待测微波;所述静磁场调节装置用于控制施加在所述金刚石上的静磁场的场强;所述共聚焦显微装置用于利用预设波长的激光激发所述NV色心的电子状态,记录所述NV色心在所述待测微波影响下发出的荧光,并输出反映所述荧光的荧光信号;所述信号处理装置用于根据所述荧光信号,重构所述待测微波在纳米量级分辨率的微波磁场矢量。
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