[发明专利]基于局部水浸耦合方式单晶直探头的中厚板超声检测方法

摘要

本发明提供基于局部水浸耦合方式单晶直探头的中厚板超声检测方法，利用单晶直探头、局部水浸耦合方式和界面波闸门实时跟踪方式，同时通过第一次伤波和第一次底波在不同灵敏度情况下对缺陷评价的多通道自动化板探检测工艺对中厚板缺陷进行超声检测，包括：利用单晶直探头、局部水浸耦合方式和分时机制，通过多通道单晶直探头获取待测中厚板各区域回波信号并模数转换；根据转换后回波数据判断是否有缺陷，若是则产生中断信号，将中断信号和回波数据发送至处理器；处理器根据其形成A扫图像并获得缺陷当量大小，将A扫波形利用回波幅值高度、声程位置和判伤标准转化为C扫图像。能有效满足检测中厚板缺陷需求，减少探头磨损，实用性更高。

主权项

1.一种基于局部水浸耦合方式单晶直探头的中厚板超声检测方法，其特征在于，利用单晶直探头、水耦合方式为局部水浸和界面波闸门实时跟踪的方式，同时通过第一次伤波和第一次底波在不同灵敏度情况下，对缺陷进行评价的多通道自动化板探检测工艺，对中厚板的缺陷进行超声检测，具体包括步骤：100、根据待测中厚板的宽度自动计算得到单晶直探头的数量，其中，在待测中厚板的宽度方向上，每隔预设距离设置一个通道的单晶直探头，形成一个探伤路径，每个单晶直探头用于检测预设范围区域，获取预设范围区域的回波信号，以满足100％全覆盖；101、利用单晶直探头，采用局部水浸耦合方式，使用分时机制，通过多个通道的各单晶直探头，获取待测中厚板各区域的回波信号；102、对所述回波信号进行模数转换，获得数字化的回波数据；103、对所述回波数据中波形的特性进行分析，判断所述回波数据对应的单晶直探头的扫查位置是否有缺陷；104、若确定所述回波数据对应的单晶直探头的扫查位置有缺陷，则产生中断信号，并将所述中断信号和所述回波数据发送至处理器；105、所述处理器根据接收的中断信号和所述回波数据，形成相应的A扫图像；106、所述处理器将所述回波数据及所述回波数据对应的单晶直探头的扫查位置与预先建立的待测中厚板板材的特征数据库中的数据进行比较，获得缺陷的当量大小；107、所述处理器将每一通道的A扫图像中的波形，利用回波幅值高度、声程位置和判伤标准转化为C扫图像。