[发明专利]一种架构静态成熟度度量方法有效

专利信息
申请号: 201610112423.1 申请日: 2016-02-29
公开(公告)号: CN105739993B 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 李必信;姜雨晴;廖力 申请(专利权)人: 东南大学;华为技术有限公司
主分类号: G06F8/77 分类号: G06F8/77
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种架构静态成熟度度量方法,将传统的面向对象的软件评估方法应用于架构级别,以架构的构件图为度量对象,得到高层次设计上的圈复杂度、扇入扇出、模块间耦合度、模块的响应、内聚度,将上述信息进一步加工得到架构的静态成熟度,它可以帮助用户发现架构静态组织结构和逻辑依赖关系上存在的问题,改进架构质量。
搜索关键词: 一种 架构 静态 成熟度 度量 方法
【主权项】:
1.一种架构静态成熟度度量方法,其特征在于,该方法包含以下步骤:步骤1)合格性检查:检查该架构描述文档中是否包含后缀是否为.xml或者.xmi的构件图,如是,则进入步骤2),否则,结束本方法流程,所述架构描述文档包含构件图、部署图、用例图、顺序图、系统顺序图和约束文档;步骤2)获取元数据:对架构描述文档中的构件图进行解析,统计构件图中的构件、构件间关联关系信息,包括构件图数目L,外部构件数目totalN,外部构件间的连接关系totalE,以及各个构件的依赖出边数目E、依赖入边数目X,提供接口数W、使用接口数R、子构件数目S以及子构件依赖关系的邻接矩阵AdjMatrix;步骤3)根据下列各公式分别计算获取中间数据,所述中间数据包括圈复杂度、扇入扇出度、模块间耦合度、模块间响应、紧内聚度和松内聚度:圈复杂度CCN:CCN=(totalE‑totalN)+2×L扇入扇出度FFC:FFC=CCN×(E+W×(X+R))2模块间耦合度CBO:模块间响应RFC:RFC=S+E+R紧内聚度TCC和松内聚度LCC:其中,表示所有子模块直接相关的关系数目;NIC(S)表示子构件间的依赖关系形成的传递闭包;步骤4)根据下式计算架构静态成熟度:
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