[发明专利]一种材料机械性能测定装置及其压头组件和测定方法在审

专利信息
申请号: 201610109773.2 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN105716975A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 金南辉 申请(专利权)人: 金南辉
主分类号: G01N3/42 分类号: G01N3/42;G01N3/02
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀锋
地址: 516081 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种材料机械性能测定装置及其压头组件和测定方法,所述材料机械性能检测定用压头包括用于施压于被测对象上以获取压痕的压头及压头杆,用于获取所述压头的压力和压深的传感器组件,用于获取压痕的图像及被测对象变形尺寸数据的光学组件;其中,所述压头杆为中空结构,光学组件设于压头杆上,压头由透明材料制成,设于压头杆的端部,光学组件的光成像路径与压头的施压方向一致。本发明解决了光学组件的实时数据的采集,结合传感器组件和光学组件的实现的多次实时的测量数据的可能,所以可在材料机械性能的表征中增加两个表征因数,提高力学性能检测准确性。
搜索关键词: 一种 材料 机械性能 测定 装置 及其 压头 组件 方法
【主权项】:
一种材料机械性能测定用压头组件,其特征在于,包括:用于施压于被测对象上以获取压痕的压头及压头杆,用于获取所述压头的压力和压深的传感器组件,用于获取所述压痕的图像及被测对象变形尺寸数据的光学组件;其中,所述压头杆为中空结构,所述光学组件设于所述压头杆上,所述压头由透明材料制成,设于所述压头杆的端部,所述光学组件的光成像路径穿过所述压头杆与所述压头的施压方向一致。
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