[发明专利]一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核方法与系统有效

专利信息
申请号: 201610087285.6 申请日: 2016-02-16
公开(公告)号: CN105598595B 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 肖磊;吴佳霖;李金江;徐地华 申请(专利权)人: 广东正业科技股份有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K26/38
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 523808 广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核方法,包括:将三个测距传感器均设置于激光喷嘴上的同一位置,并使第一测距传感器的测距方向与激光喷嘴的轴向平行,同时使第二和第三测距传感器均与激光喷嘴的轴向呈夹角α;第一测距传感器测量自身到加工面的距离为a,第二测距传感器为b,第三测距传感器为c;计算a与b的比值以及a与c的比值,并判断两比值是否均等于cosα,如果是,则激光喷嘴与加工面垂直,如果否,则不垂直。本发明通过三个测距传感器的测距功能,避免了现有技术中的肉眼观察和接触式的直尺测量方法,较快速且精确地识别激光喷嘴与加工面的关系。本发明还公开一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核系统,其有益效果如上所述。
搜索关键词: 一种 激光 喷嘴 加工 垂直 校核 方法 系统
【主权项】:
1.一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核方法,其特征在于,包括:将第一测距传感器、第二测距传感器和第三测距传感器均设置于激光喷嘴上的同一位置,并使所述第一测距传感器的测距方向与激光喷嘴的轴向平行,同时使所述第二测距传感器和第三测距传感器的测距方向均与激光喷嘴的轴向呈夹角α;所述第一测距传感器测量自身到加工面的距离为a,所述第二测距传感器测量自身到加工面的距离为b,所述第三测距传感器测量自身到加工面的距离为c;计算a与b的比值以及a与c的比值,并判断两比值是否均等于cosα,如果是,则激光喷嘴与加工面垂直,如果否,则不垂直;在设置所述第二测距传感器和第三测距传感器时,使所述第二测距传感器和第一测距传感器的测距方向共同所在平面,与所述第三测距传感器和第一测距传感器的测距方向共同所在平面垂直。
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