[发明专利]光学元件、透过探针、试样容器、光学装置以及液浸透过测定方法在审
申请号: | 201610084550.5 | 申请日: | 2016-02-14 |
公开(公告)号: | CN105974511A | 公开(公告)日: | 2016-09-28 |
发明(设计)人: | 铃木泰幸;中村幸弘;生田目哲志 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G02B6/00 | 分类号: | G02B6/00;G01N21/59 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 光学元件(10)具有:主体(110),其由透光材料构成,包含圆弧状的光路;以及空隙(111),其形成于所述主体(110)中的所述圆弧状的光路上。本光学元件(10)例如在液浸透过测定中进行使用。根据本光学元件(10),在将光向空隙内的试样液进行照射而实施透过测定时,能够使试样液容易浸入空隙中。 | ||
搜索关键词: | 光学 元件 透过 探针 试样 容器 装置 以及 浸透 测定 方法 | ||
【主权项】:
一种光学元件,其具有:主体,其由透光材料构成,包含圆弧状的光路;以及空隙,其形成于所述主体中的所述圆弧状的光路上。
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