[发明专利]红外图像非均匀性校正方法及装置

摘要

本发明提供了一种红外图像非均匀性校正方法及装置，改善了现有技术中的非均匀校正方式不能很好适应仪器非线性响应的问题。该装置应用于大口径红外成像系统，大口径红外成像系统包括镜头镜筒和探测器，装置包括支架、反射镜、热源、光阑和处理器；热源的辐射光经光阑射向反射镜并经反射镜反射后进入镜头镜筒中，探测器用于对进入镜头镜筒中的辐射光进行检测；处理器用于得出光阑通光面积S与成像各像元响应数据yi之间的yi‑S关系曲线，以及与yi‑S关系曲线对应的辐射强度H与通光面积S的yi‑H关系曲线，并对yi‑H关系曲线进行校正。该红外图像非均匀性校正方法及装置，可以实现对仪器非线性响应的校正，实施方便，易于推广应用。

主权项

1.一种红外图像非均匀性校正装置，应用于大口径红外成像系统，所述大口径红外成像系统包括镜头镜筒和探测器，其特征在于，所述装置包括支架、反射镜、热源、光阑和处理器；所述支架一端安装于所述镜头镜筒上、另一端与所述反射镜相连，所述热源设于与所述探测器相邻位置处；所述光阑设于所述热源与所述反射镜之间，所述热源的辐射光经所述光阑射向所述反射镜并经所述反射镜反射后进入所述镜头镜筒中，所述探测器用于对进入所述镜头镜筒中的辐射光进行检测；所述处理器用于根据所述热源温度、光阑通光面积、所述大口径红外成像系统所处条件下的标准光谱辐射数据得出所述光阑通光面积S与所述大口径红外成像系统的成像各像元响应数据yi之间的yi‑S关系曲线，以及与所述yi‑S关系曲线对应的辐射强度H与通光面积S的yi‑H关系曲线，将所述yi‑H关系曲线中所有像元的低端点响应统一修正y'_j，将所述yi‑H关系曲线中所有像元的高端点响应统一修正y'_k，得到响应数据y'_n与所述辐射强度H成线性关系的直线L，根据所述直线L上的y'_n与所述yi‑S关系曲线上的y_n之间的映射关系得到y'_n到y_n的映射表，根据所述映射表将每个y_n均映射为y'_n。