[发明专利]一种电子式互感器校验仪溯源方法及系统

摘要

本发明提供一种电子式互感器校验仪溯源方法及系统，方法包括：数字多用表采集模拟信号并转换为数字报文；上位机将数字报文虚拟重构后叠加误差信息，形成重构报文；报文控制器根据重构报文进行时序控制；被测电子式互感器校验仪采集模拟信号和报文控制器发送的重构报文并生成误差信息；对比被测电子式互感器校验仪生成的误差信息和上位机叠加的误差信息，获取其测试误差。本发明通过将数字多用表采样数据进行虚拟重构的方式，使得其输出的数字报文与实际电子式互感器合并单元输出的报文相一致，并通过对比被测电子式互感器校验仪生成的误差信息和上位机叠加的误差信息，获取被测电子式互感器校验仪的测试误差，从而完成完整溯源工作。

主权项

1.一种电子式互感器校验仪溯源方法，其特征在于，所述电子式互感器校验仪溯源方法包括：数字多用表采集可控模拟信号源发送的模拟信号，并将所述模拟信号转换为数字报文；上位机采集所述数字报文，并将所述数字报文虚拟重构后叠加误差信息，形成重构报文，其中，所述误差信息包括幅值误差、相位误差以及延时误差；所述叠加误差信息包括：当控制模式为连续方式且满足x≤n＜x+act时，则上位机发送序号参数seq和相对延时参数offset，其中，seq＝n/(f/1000)，offset＝n％(f/1000)*t+Δt；当控制模式为连续方式且满足n＜x或n≥x+act时，则上位机发送序号参数seq和相对延时参数offset，其中，seq＝n/(f/1000)，offset＝n％(f/1000)*t；当控制模式为随机方式且满足flag[n]＝1时，则上位机发送序号参数seq和相对延时参数offset，其中，seq＝n/(f/1000)，offset＝n％(f/1000)*t+Δt；当控制模式为随机方式且满足flag[n]≠1时，则上位机发送序号参数seq和相对延时参数offset，其中，seq＝n/(f/1000)，offset＝n％(f/1000)*t；其中，x为随机数，n为报文发送序号，act为偏移量，f为上位机软件配置的报文发送频率，t为每帧报文平均发送间隔时间对应计数值，Δt为变量Δ对应的计数值；报文控制器采集所述重构报文，并根据所述重构报文进行时序控制后发送至被测电子式互感器校验仪；被测电子式互感器校验仪分别采集可控模拟信号源发送的模拟信号和报文控制器发送的重构报文，并根据所述模拟信号和所述报文控制器发送的重构报文生成误差信息；对比被测电子式互感器校验仪生成的误差信息和上位机叠加的误差信息，获取被测电子式互感器校验仪的测试误差。