[发明专利]一种基底支撑聚合物薄膜黏度的测量方法

摘要

本发明提供了一种基底支撑聚合物薄膜黏度的测量方法，首先将基底支撑聚合物薄膜加热并维持温度恒定；然后将测试液体置于所述维持温度恒定的聚合物薄膜表面，形成液滴，并记录放置时间；将聚合物薄膜冷却，除去聚合物薄膜表面的液滴，在所述除去液滴的聚合物薄膜表面的聚合物/液滴/空气三相线处形成润湿脊，测量润湿脊的高度；当所述液滴在聚合物薄膜表面的放置时间大于聚合物薄膜松弛时间时，所述液滴放置时间与所述润湿脊的高度之间具有线性关系，依据其线性关系的斜率可以计算得到聚合物薄膜的黏度。本发明提供的测量方法能够准确的测定基底支撑聚合物薄膜黏度，操作方法简单、成本低、适应性广。

主权项

一种基底支撑聚合物薄膜黏度的测量方法，包括以下步骤：(1)将基底支撑聚合物薄膜加热并维持温度恒定；(2)将测试液体置于步骤(1)所述维持温度恒定的聚合物薄膜表面，形成液滴，测定所述液滴在所述聚合物薄膜表面形成的接触角θ值，记录液滴在聚合物薄膜表面的放置时间t；(3)将步骤(2)中所述聚合物薄膜冷却，除去所述聚合物薄膜表面的液滴，在所述除去液滴的聚合物薄膜表面的聚合物/液滴/空气三相线处形成润湿脊，测量润湿脊的高度h；(4)改变液滴在聚合物薄膜表面的放置时间t，获得润湿脊的高度h随液滴放置时间t的h～t变化关系；当所述液滴在聚合物薄膜表面的放置时间大于聚合物薄膜松弛时间时，所述液滴放置时间与所述润湿脊的高度之间具有式I所示的线性关系；基于式I线性关系的斜率k，根据所述式II计算得到聚合物薄膜的黏度：h＝kt+b   式I，其中，h—润湿脊的高度，t—液滴在聚合物薄膜表面的放置时间，k—斜率，b—截距；η＝0.37γsinθ/k   式II，其中，η—聚合物薄膜的黏度，γ—液滴的表面张力，θ—液滴与聚合物薄膜表面形成的接触角，k—式I中的斜率。