[发明专利]光学分析用单元和使用了其的粒径分布测定装置有效
| 申请号： | 201610030887.8 | 申请日： | 2016-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN105842131B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 山口哲司 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 周善来;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供光学分析用单元和使用了其的粒径分布测定装置，其与以往的想法完全不同，着眼于试样的粘弹性，不使用垫片就能简单地使试样的厚度均匀并能简单地使一对透光板彼此平行。光学分析用单元(100)包括一对透光板(10)，一对透光板(10)用彼此相对的朝内的面(10a)夹入并保持具有规定的粘弹性的试样(X)，光学分析用单元(100)还包括具有以分开规定距离的方式设置的一对相对面(21a)、(22a)的距离决定构件(20)，各透光板(10)受到试样(X)的弹性力，由此各透光板(10)的朝内的面(10a)的相反侧的朝外的面(10b)被推压到各相对面(21a)、(22a)，朝内的面(10a)的分离距离被确定。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 分析 单元 使用 粒径 分布 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种光学分析用单元，其包括一对透光板，所述一对透光板用彼此相对的朝内的面夹入并保持具有规定的粘弹性的试样，所述光学分析用单元的特征在于，所述光学分析用单元还包括距离决定构件，所述距离决定构件具有一对相对面，所述一对相对面以分开规定距离的方式设置，各所述透光板受到所述试样的弹性力，由此各所述透光板的所述朝内的面的相反侧的朝外的面分别被推压到各所述相对面，所述朝内的面的分离距离被确定。
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