[发明专利]基于等位线滤波反投影算法的压力分布重建方法有效
申请号: | 201610016387.9 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN105631226B | 公开(公告)日: | 2018-04-06 |
发明(设计)人: | 李士强;王新立;刘国强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基于等位线滤波反投影算法的压力分布重建方法,它通过采用压阻材料制作的压力垫(1)在受到压力时电阻率发生变化的特性,采用激励电源(2)向压力垫(1)注入激励电流,同时检测压力垫(1)表面边缘电压,利用电压信息,采用等位线滤波反投影算法反演计算得到压力垫电阻率的变化,再根据材料的压阻特性重建压力垫(1)的受力的分布情况。获得的压力分布图像可以用来分析患者坐、立、行、卧等姿势,调整康复辅具。 | ||
搜索关键词: | 基于 等位 滤波 投影 算法 压力 分布 重建 方法 | ||
【主权项】:
一种基于等位线滤波反投影算法的压力分布重建方法,其特征在于:所述的压力分布重建方法包括四个步骤:第一步:构建无压力时电阻率分布矩阵、反投影矩阵以及加权系数矩阵首先通过检测压力垫(1)自身的压阻特性,构建压力垫(1)的电阻率分布矩阵,然后根据压力垫(1)的形状、尺寸和激励检测方式构建反投影矩阵以及加权系数矩阵,具体如下:1)使用电流表或电压表,采用四探针法或范德堡法测量压力垫(1)的电阻率,得到压力垫(1)的电阻率分布矩阵ρ,通过压力加载获得压力垫的压阻特性关系f(ρ,P),其中P为施加的压力;2)根据压力垫(1)的形状和尺寸,采用计算仿真软件建立压力垫有限元模型,该有限元模型中的有限单元数为M,将该有限元模型有限单元的电阻率设置成电阻率分布矩阵ρ的元素;确定电极个数N、电极排列方式、激励电流注入方式、电压测量方式,以及加权系数矩阵W;3)采用所建立的压力垫有限元模型,计算压力垫表面边缘电极处的响应电压Vj1,Vj2,Vij,其中,Vj1,Vj2分别为第j对电极上的响应电压,Vij为从i对电极注入电流后,在第j对电极间的响应电压,Vij=Vj1‑Vj2,i,j=1,2,…N,N为电极个数;4)计算有限元模型中有限单元的电位Vm,m为有限单元编号,m=1,2,…M,Vm取第m个单元三个顶点电压的平均值;5)构建第i对电极激励时的反投影矩阵Bi,矩阵中的元素Bi[m,j]可由下式(1)决定:式中,m为有限单元编号,m=1,2,…M;i为注入电极对编号,j为检测电极对编号,i,j=1,2,…N,N为电极个数,Bi[m,j]表示从第i对电极注入电流时,第j对电极间的电压变化投影到第m个有限单元时的反投影矩阵元素;第二步:获得电压检测信号在给压力垫(1)施加压力的过程中,根据预设的激励电流注入方式,向压力垫(1)注入电流,信号为稳恒交流信号,频率在200kHz以下;通过布置在压力垫(1)表面边缘的电极,检测电极处的电压信号Uj1,Uj2,Uij,其中,Uj1,Uj2分别为第j对电极上的响应电压,Uij为从i对电极注入电流后,在第j对电极间的响应电压,Uij=Uj1‑Uj2,i,j分别为注入电极对和接收电极对编号,i,j=1,2,…N,N为电极个数;然后通过信号处理系统实现电压信号的前置放大,滤波,二级放大处理后存储;第三步:采用等位线滤波反投影算法求解电阻率变化分布矩阵1)根据下式(2)标准化处理检测电压的变化,得到矩阵DijDij=Uij-VijVij---(2)]]>式中,i,j分别为注入电极对和接收电极对编号,i,j=1,2,…N,N为电极个数,Vij为所述第一步计算得到的的从i对电极注入电流时,在第j对电极间的响应电压,Uij为所述第二步检测得到的从i对电极注入电流时,在第j对电极间的响应电压;2)根据式(3)求解第m个单元的电导率变化σmσm=1NΣi=1NΣj=1NWi[m,j]·Bi[m,j]·Dij---(3)]]>式中,i,j分别为注入电极对和接收电极对编号,i,j=1,2,…N,N为电极个数,m为有限单元编号,m=1,2,…M,Wi[m,j]为加权系数矩阵W中的对应加权系数;3)根据式(4)获得新的电阻率分布变化矩阵ρ′ρm′=1σm---(4)]]>式中,ρm′为第m个单元的电阻率变化,将每一个单元的电阻率变化组合在一起,其可得到整个压力垫(1)的电阻率分布变化矩阵ρ′;第四步:利用压阻特性重建压力分布图像根据第一步测量的压力垫(1)的压阻特性关系f(ρ,P),获得与电阻率ρ′相对应的压力P的分布图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所,未经中国科学院电工研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610016387.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。