[发明专利]提取有机发光器件的相关曲线的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201610007145.3 申请日: 2016-01-06
公开(公告)号: CN105761671B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 戈尔拉玛瑞扎·恰吉;里基·依克·黑·奈根;尼诺·扎西洛维奇 申请(专利权)人: 伊格尼斯创新公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208;G09G3/3233
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 曹正建;陈桂香
地址: 加拿大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种提取有机发光器件的相关曲线的系统和方法。本发明涉及用于使像素阵列中的像素均衡化的系统,所述像素包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件,所述系统:从所述阵列中提取至少一个像素参数;基于所提取的像素参数创建所述阵列的应力图案;根据所述应力图案使所述像素受到应力;从受到应力的所述像素中提取所述像素参数;确定从受到应力的所述像素中提取的所述像素参数是否处于预先选择的范围内,且在答案是否定的时:基于从受到应力的所述像素中提取的所述像素参数创建所述阵列的另一应力图案;根据所述另一应力图案使所述像素受到应力;从受到应力的所述像素中提取所述像素参数;以及确定从受到应力的所述像素中提取的所述像素参数是否处于所述预先选择的范围内。
搜索关键词: 提取 有机 发光 器件 相关 曲线 系统 方法
【主权项】:
一种用于使像素阵列中的像素均衡化的方法,所述像素包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件,所述方法包括:从所述阵列中提取至少一个像素参数;基于所提取的像素参数,创建所述阵列的应力图案;根据所述应力图案,使所述像素受到应力;从受到应力的所述像素中提取所述像素参数;确定从受到应力的所述像素中提取的所述像素参数是否处于预先选择的范围内,且在答案是否定的时:基于从受到应力的所述像素中提取的所述像素参数,创建所述阵列的另一应力图案;根据所述另一应力图案,使所述像素受到应力;从受到应力的所述像素中提取所述像素参数;以及确定从受到应力的所述像素中提取的所述像素参数是否处于所述预先选择的范围内。
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