[发明专利]校准页宽阵列打印装置的介质推进系统有效
| 申请号： | 201580084203.6 | 申请日： | 2015-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN108349273B | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | A·博雷戈莱夫拉托;F·J·罗塞斯科内萨;R·塔瑙苏;M·伊西多罗 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | B41J11/42 | 分类号： | B41J11/42 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 林金朝;王英 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 描述了一种确定用于页宽阵列打印装置的介质推进系统的校准值的方法。在沿介质轴推进通过所述打印装置的校准介质上打印测试图案。测试图案包括多个测试标记。使用传感器沿扫描轴扫描所述测试图案，并且沿所述介质轴将所述校准介质推进通过所述打印装置。分析被扫描的测试标记的尺寸，以及从所分析的所述测试标记的尺寸确定校准值。所述扫描轴与所述介质轴正交。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 阵列 打印 装置 介质 推进 系统 | ||
【主权项】：
1.一种确定用于页宽阵列打印装置的介质推进系统的校准值的方法，包括：在沿介质轴推进通过所述打印装置的校准介质上打印包括多个测试标记的测试图案，使用传感器沿扫描轴扫描所述测试图案，并且沿所述介质轴将所述校准介质推进通过所述打印装置，分析被扫描的测试标记的尺寸，以及从所分析的所述测试标记的尺寸确定校准值，其中，所述扫描轴与所述介质轴正交。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普发展公司，有限责任合伙企业，未经惠普发展公司，有限责任合伙企业许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580084203.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于重量重的基底的喷墨印刷装置
- 下一篇：带有斜台的介质托盘
