[发明专利]智能电子开发测试系统在审
| 申请号： | 201580076122.1 | 申请日： | 2015-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN107615084A | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 韩性峰 | 申请（专利权）人： | 深圳瀚飞科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248 | 代理人： | 胡玉 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种智能电子开发测试系统，包括智能手机和控制盒，其中，所述智能手机上运行电子开发测试系统模拟界面APP软件；所述模拟界面上自由设置电子开发测试功能，并可自由的将所述功能对应到所述控制盒的排针上；所述控制盒与智能手机连接，所述控制盒上设置一组连接排针，其编号与模拟界面中的编号——对应；所述控制盒与软件开发系统的芯片连接，将所接收到的智能手机传过来的信息传递给软件开发系统，同时将软件开发系统发送过来的信号传递至智能手机并在模拟界面中显示。该智能电子开发测试系统方便快捷，便于提高工程开发人员的效率，同时减少浪费，节省材料，环保节能，具有很好的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 电子 开发 测试 系统 | ||
【主权项】：
PCT国内申请，权利要求书已公开。
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