[发明专利]通过动态光散射装置确定样品的折射率和所述样品中颗粒的粒度有效
| 申请号： | 201580074042.2 | 申请日： | 2015-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN107257919B | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 克里斯蒂安·莫伊齐 | 申请（专利权）人： | 安东帕有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/51 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王晖;李洁 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种动态光散射装置(10)，包括：源(1)，其用于用一次电磁辐射(2)照射样品(5)；检测器(7)，其用于检测通过使一次电磁辐射(2)在样品(5)处散射所产生的二次电磁辐射(6)；折射率确定单元(20)，其包括可移动光学元件(4)，并且被配置为基于针对可移动光学元件的多个不同位置对二次电磁辐射的测量来确定指示样品(5)的折射率的信息；以及粒度确定单元(22)，其被配置为通过分析所检测的二次电磁辐射(6)并考虑由折射率确定单元确定的折射率来确定指示样品(5)中的颗粒的粒度的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 动态 散射 装置 确定 样品 折射率 颗粒 粒度 | ||
【主权项】：
一种散射装置(10)，特别是动态光散射装置(10)，包括：电磁辐射源(1)，所述电磁辐射源被配置用于用一次电磁辐射(2)照射样品(5)；电磁辐射检测器(7)，所述电磁辐射检测器被配置用于检测通过使所述一次电磁辐射(2)在所述样品(5)处散射所产生的二次电磁辐射(6)；折射率确定单元(20)，所述折射率确定单元被配置用于确定指示所述样品(5)的折射率的信息；粒度确定单元(22)，所述粒度确定单元被配置用于通过分析所检测的二次电磁辐射(6)来确定指示所述样品(5)中的颗粒的粒度的信息。
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