[发明专利]用于测试头的接触探针的制造方法在审
| 申请号： | 201580071446.6 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN107250809A | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 拉斐尔·乌巴尔多·瓦劳利 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R3/00 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)11400 | 代理人： | 葛强,侯晓艳 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于测试头(18)的接触探针(10)的制造方法，包括以下步骤提供由导电材料构成的基板(11)；以及‑通过激光切割所述基板(11)限定出至少一个接触探针(10)。所述方法还包括所述接触探针(10)的至少一个端部(10A,10B)的至少一个后处理精细限定步骤，其在通过激光切割限定所述接触探针(10)的步骤之后，所述端部(10A,10B)为包括所述接触探针(10)的接触尖端(10A)或接触头(10B)的部分，所述精细限定步骤不包括激光处理，至少以微米精度几何地限定了所述接触探针(10)的端部(10A，10B)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 接触 探针 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试头(18)的接触探针(10)的制造方法，包括以下步骤：‑提供由导电材料制成的基板(11)；以及‑通过激光切割所述基板(11)限定至少一个接触探针(10)；其特征在于，所述方法还包括：在通过激光切割所述基板(11)限定至少一个接触探针(10)之后，对所述接触探针(10)的至少一个端部(10A,10B)进行至少一个后处理的精细限定步骤，其中，所述端部(10A,10B)为包括所述接触探针(10)的接触尖端(10A)或接触头(10B)的部分，所述精细限定步骤不涉及激光处理，并且至少以微米精度几何地限定所述接触探针(10)的所述端部(10A，10B)。
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