[发明专利]用于测试头的接触探针有效
| 申请号： | 201580070711.9 | 申请日： | 2015-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN107257928B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 朱塞佩·克里帕 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 葛强;雷丽 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述了用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针，其包括按照接触尖端和接触头(30A，30B)之间的纵向方向基本延伸的主体，所述接触探针(30)包括至少一个多层结构(31)和外涂层(35)，所述至少一个多层结构(31)包括至少一个内层或芯体(32)和第一内涂层(33)的叠加，所述外涂层(35)完全覆盖所述多层结构(31)并且由具有比制成所述芯体(32)的材料的硬度高的材料制成，所述外涂层(35)还覆盖边缘部分(34A，34B)，所述边缘部分处包括有所述芯体(32)和所述第一内涂层(33)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 接触 探针 | ||
【主权项】：
一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(30)，所述接触探针(30)包括在接触尖端(30A)和接触头(30B)之间基本沿纵向方向延伸的主体，所述接触探针(30)包括至少一个多层结构(31)，所述多层结构(31)包括至少一个内层或芯体(32)和第一内涂层(33)的叠加，其特征在于，所述接触探针(30)包括外涂层(35)，所述外涂层(35)完全覆盖所述多层结构(31)，并且所述外涂层的制造材料比所述芯体(32)的制造材料的硬度更高，所述外涂层(35)还覆盖边缘部分(34A，34B)，所述边缘部分处包括有所述芯体(32)和所述第一内涂层(33)。
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