[发明专利]用于光学检测流体样品中的纳米粒子的方法和设备有效
| 申请号： | 201580066889.6 | 申请日： | 2015-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN107003228B | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | A·C·博卡拉;M·博卡拉 | 申请（专利权）人： | 巴黎城市物理化工高等学院;中央科学研究中心;皮埃尔与玛丽·居里大学;巴黎高等师范学校;法国国家卫生及医学研究院 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陆嘉 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 根据一个方面，本发明涉及用于通过透射以光学检测在流体样品中运动的纳米粒子的设备(100)，包括：光源(10)，用于发射用于照射样品的空间非相干光束；包括显微镜物镜(31)的成像光学系统(30)；二维光学检测器(40)，其包括通过成像光学系统(30)与显微镜物镜的物焦平面共轭的检测平面(41)，并且允许获取样品的分析体积的一系列图像，每个图像通过入射到样品上的照射光束和在不到1毫秒的预设时间段内由分析体积中存在的每个纳米粒子散射的光束之间的光学干涉产生；图像处理装置(50)，图像处理装置(50)允许取得一系列所述图像的平均值，并且从每个图像中减去该平均值，从而针对分析体积中的每个纳米粒子确定散射光束的振幅。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 检测 流体 样品 中的 纳米 粒子 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于通过透射以光学检测在流体样品中运动的纳米粒子的设备(100)，包括：‑光源(10)，用于发射用于照射样品的空间非相干光束；‑包括显微镜物镜(31)的成像光学系统(30)；‑二维光学检测器(40)，所述二维光学检测器(40)包括通过所述成像光学系统(30)与所述显微镜物镜的物焦平面共轭的检测平面(41)，并且允许获取所述样品的分析体积的一系列图像，每个图像通过入射到所述样品上的所述照射光束和在不到1毫秒的预设时间段内由所述分析体积中的每个纳米粒子散射的光束之间的光学干涉产生；‑图像处理装置(50)，所述图像处理装置(50)允许取得所述一系列图像的平均值，并且从每个图像中减去所述平均值，从而针对所述分析体积中的每个纳米粒子确定所述散射光束的振幅。
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