[发明专利]检体测定装置有效
| 申请号： | 201580058693.2 | 申请日： | 2015-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN107076658B | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 松井邦彦;田村晃子 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 韩景漫;杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 检体测定装置10含有对由检体制备的测定试样照射激光的激光二极管16a、从激光照射过的测定试样中的粒子获取光学信息的检测单元120、向激光二极管16a供给直流驱动信号的驱动电路13、高频化电路14，通过产生在既定周期重复高电平和低电平的电位，从而将从驱动电路13输出的驱动信号在既定周期向与与激光二极管16a连接的第一信号路径102不同的第二信号路径103引导，将供给给激光二极管16a的驱动信号高频化。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种检体测定装置，其含有：对由检体制备的测定试样照射激光的激光二极管、从激光照射过的所述测定试样中的粒子获取光学信息的检测单元、向所述激光二极管供给直流驱动信号的驱动电路、高频化电路，通过产生在既定周期重复高电平和低电平的电位，从而将从所述驱动电路输出的所述驱动信号在既定周期向与与所述激光二极管连接的第一信号路径不同的第二信号路径引导，将供给给所述激光二极管的所述驱动信号高频化。
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