[发明专利]用于在电子系统中进行多接口调试的方法和装置

摘要

公开了用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)。电子系统包含要求大量测试和调试来确保良好的质量和性能的复杂集成电路(IC)。在示例性方面，在电子系统中提供了EUD。EUD配置成向电子系统中的多个内部调试接口发送控制信息和/或从电子系统中的多个内部调试接口收集调试信息。EUD还配置成将调试信息转换成USB格式，从而调试信息能够通过由电子系统提供的USB接口而被外部访问。EUD可以提供电子系统的非侵入性监视。当EUD被启用时，电子系统能够将USB端口用于任务模式中的通信。附加地，电子系统在EUD持续工作时能够在功率节省模式期间开启或关闭所有系统时钟。

主权项

一种电子系统中的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)，包括：USB集线器，其包括：耦合到所述电子系统中的USB物理层(PHY)的至少一个上行流接口；以及通信地耦合到所述至少一个上行流接口的多个下行流接口；以及耦合到所述多个下行流接口中的一者的调试外围设备，其中所述调试外围设备配置成在所述多个下行流接口中的所述一者上与所述USB集线器交换USB格式的数据分组；其中所述调试外围设备通信地耦合到所述电子系统中多个调试功能中的至少一个调试功能以从所述至少一个调试功能接收调试信息；其中所述调试外围设备配置成将从所述至少一个调试功能接收到的所述调试信息转换成所述USB格式的数据分组以提供给所述USB集线器；以及其中所述USB集线器配置成在所述至少一个上行流接口上向所述USB PHY提供所述USB格式的数据分组。