[发明专利]X射线CT装置、投影数据的上采样方法以及图像重构方法有效
| 申请号： | 201580057868.8 | 申请日： | 2015-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN107106108B | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 藤井英明;后藤大雅;中泽哲夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李国华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在X射线CT装置中进行螺旋摄影等的情况下，可以得到更接近于实测值的上采样投影数据。在使X射线焦点位置移动至多个位置来获得投影数据的FFS法中，不降低旋转速度而提高有效视野整体的空间分辨率，X射线CT装置将通过螺旋摄影而得到的投影数据变换为正常摄影旋转一周份的投影数据，生成变换后的投影数据中的X射线透射路径大致一致的虚拟对置数据空间，在视角方向上进行上采样，此外针对通过使X射线焦点位置进行位移的同时进行螺旋摄影而得到的焦点位移投影数据也同样地在视角方向上对FFS投影数据进行上采样(虚拟对置数据空间生成)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 ct 装置 投影 数据 采样 方法 以及 图像 | ||
【主权项】：
暂无信息
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