[发明专利]用于基于磁传感器的表面形状分析空间定位的装置和方法有效
| 申请号： | 201580053754.6 | 申请日： | 2015-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN107110919B | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | L.隆巴德;B.坎布;K.麦凯 | 申请（专利权）人： | 科罗克斯技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/038 | 分类号： | G01R33/038 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 励晓林 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种设备具有支撑暴露于均匀外部磁场的磁传感器阵列的柔性基板。一个或多个控制器从磁传感器接收磁传感器信号。当柔性基板与均匀外部磁场对准时，所述一个或多个控制器收集参考磁传感器信号。所述一个或多个控制器响应于柔性基板在第一方向上的变形，收集第一极性磁传感器信号。所述一个或多个控制器响应于柔性基板在第二方向上的变形，收集第二极性磁传感器信号。磁传感器信号建立柔性基板相对于均匀外部磁场的取向的简档。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 均匀 磁场 基于 传感器 表面 形状 分析 空间 定位 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种表面形状分析设备，包括：/n柔性基板，支撑暴露于均匀外部磁场的磁传感器阵列；和/n一个或多个控制器，用于从磁传感器阵列接收磁传感器信号，其中所述一个或多个控制器在柔性基板与均匀外部磁场对准时收集参考磁传感器信号，响应于柔性基板在第一方向上的变形收集第一极性磁传感器信号，并且响应于柔性基板在第二方向上的变形收集第二极性磁传感器信号，使得磁传感器信号建立柔性基板相对于均匀外部磁场的取向的简档；/n其中，所述一个或多个控制器利用第一采样率直到检测到区域内所述柔性基板的变形，并且响应于所述检测，在所述区域内利用大于所述第一采样率的第二采样率。/n
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