[发明专利]旋转检测装置及旋转检测装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201580051506.8 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN107076582B 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 武舍武史;立井芳直;渡边佳正 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01D5/245 分类号: G01D5/245
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 具有:检测用磁铁(200),其安装于将旋转轴X0作为中心而进行旋转的旋转轴(100);以及检测部(300),其与检测用磁铁(200)相面对地配置,对旋转轴(100)的旋转进行检测。检测部(300)由下述部分构成:多层的电路基板(301);凹槽,其设置于电路基板(301)的中间层(320)内,在旋转轴X0的延长线之上具有中心而与旋转轴X0正交;复合磁线,其内置于凹槽,具有大巴克豪森效应;以及拾波线圈(360),其由电路基板(301)之上的配线导体和在通孔(TH)中填充的导体形成,将复合磁线包围。
搜索关键词: 旋转 检测 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种旋转检测装置,其特征在于,具有:检测用磁铁,其安装于将旋转轴作为中心而进行旋转的旋转体;以及检测部,其具有与所述检测用磁铁相面对地配置的多层的电路基板,对所述旋转体的旋转进行检测,所述检测部具有:复合磁线,其插入于在所述电路基板的中间层设置的凹槽,配置在所述旋转轴的延长线之上,具有大巴克豪森效应;以及拾波线圈,其由所述电路基板之上的配线以及在所述电路基板处设置的通孔中填充的导体构成,将插入于所述凹槽的所述复合磁线包围。
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