[发明专利]扫描激光平面性检测有效
| 申请号： | 201580048438.X | 申请日： | 2015-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106687850B | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | P·瑟凡·维斯瓦纳坦;罗伯特·詹姆士·杰克逊 | 申请（专利权）人： | 微视公司 |
| 主分类号： | G02B26/10 | 分类号： | G02B26/10;G03B21/00;H04N9/14 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 扫描激光投影仪(100)包括接近传感器和平面性检测器。当接近传感器检测到比接近阈限更近的对象时，调低激光功率。扫描激光投影仪(100)能测量投影仪的视场中的多个投影点的距离。如果投影点基本上位于平面中，能往回调高激光功率。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 激光 平面性 检测 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：测量扫描激光投影仪与所述扫描激光投影仪的视场中的多个投影点之间的距离；确定所述多个投影点是否基本上位于平面中；以及如果所述多个投影点不基本上位于平面中，则响应于所述视场中的障碍，进行至少一个动作。
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