[发明专利]用于漏损通量检验的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201580046252.0 申请日: 2015-05-04
公开(公告)号: CN106574912B 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: R.P.乌利希;F.赫克尔 申请(专利权)人: 霍释特博士有限两合公司
主分类号: G01N27/87 分类号: G01N27/87
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郭帆扬;宣力伟
地址: 德国里*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在一种用于检定缺陷的、用于铁磁检验物的漏损通量检验的方法中,检验体积借助于恒磁场被磁化。检验物的表面为了检测漏磁场借助于探头装置来探测,探头装置具有带磁场敏感探头的探头阵列,探头在第一方向上并排布置且保持在至表面的有限检验距离中。探头信号为了鉴别缺陷被评估。探头信号的评估包括映射操作,在其中代表探头信号的信号信息与代表探头信号的形成位置的位置信息相联系,矩阵成型操作,在其中取决于位置的信号数据或由此推导出的信号数据被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中,和至少一次评估操作,在其中取决于位置的信号数据由基础矩阵的至少两个在评估方向上直接或间接相邻的栏位在使用至少一个评估算法的情形下相联系。
搜索关键词: 用于 通量 检验 方法 装置
【主权项】:
用于检定缺陷的、用于铁磁检验物尤其铁磁管的漏损通量检验的方法,在其中所述检验物的检验体积借助于恒磁场被磁化,所述检验物的表面为了检测由缺陷所引起的漏磁场借助于探头装置来探测,所述探头装置具有带有多个磁场敏感的探头的探头阵列,所述探头在第一方向上并排布置且在所述检验的情形中被保持在相对所述检验物的表面的有限的检验距离中,且探头电信号为了鉴别所述缺陷被评估,其特征在于,使用在其中所述探头在第一方向上相应具有处在直至10mm的所述检验距离的20%的范围中的探头宽度的探头装置,且所述探头信号的评估包括如下步骤:映射操作(MAP),在其中对于每个探头信号而言代表所述探头信号的信号信息与代表探头信号的形成位置的位置信息相联系,以便于形成取决于位置的信号数据,矩阵成型操作(MAT),在其中所述取决于位置的信号数据或由此推导出的信号数据被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中,和至少一次评估操作,在其中取决于位置的信号数据由所述基础矩阵的至少两个在评估方向上相邻的栏位在使用至少一个评估算法的情形下彼此相联系。
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