[发明专利]测试插座有效
| 申请号： | 201580044606.8 | 申请日： | 2015-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN106796252B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 朴商德 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司： | 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 韩国釜山市江西*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明揭示一种用于检验讲究性质的电子器件的测试插座。用于检验对象的电性性质的测试插座包括：多个探针，被配置以用于在检验方向上缩回；探针支撑体，被配置以用于支撑多个探针，以使多个探针的第一端突出以接触对象的目标接触点；以及印刷电路板(PCB)，被配置成放置于探针支撑体下方，安装有电子部件，形成有供多个探针的第二端穿过的孔，并包括多个探针的至少一个第二端接触的至少一个第一焊垫及形成于与第一焊垫相对的侧上的至少一个第二焊垫，并且形成有自第一焊垫及第二焊垫延伸并连接至所安装电子部件的电气路径。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 插座 | ||
【主权项】：
1.一种用于检验对象的电性性质的测试插座，所述测试插座包括：/n多个探针，被配置以能够在检验方向上缩回；/n探针支撑体，被配置以支撑所述多个探针，以使所述多个探针的第一端突出以接触对象的目标接触点；/n印刷电路板，被配置以放置于所述探针支撑体的下方且安装有电子部件，包括至少一个第一焊垫及至少一个第二焊垫，并且形成有自所述第一焊垫及所述第二焊垫延伸并连接至所安装的所述电子部件的电气路径，所述多个探针的至少一个第二端接触所述第一焊垫，且所述第二焊垫形成于与所述第一焊垫相对的侧上；以及/n下支撑体，被配置成放置于所述印刷电路板的下方并包括至少一个第一导电部，所述第一导电部接触所述第二焊垫，/n其中所述印刷电路板形成有至少一个第一孔，除与所述第一焊垫接触的所述探针以外的其余所述探针的所述第二端穿过所述第一孔；且/n所述下支撑体包括至少一个第二孔，穿过所述第一孔的所述探针的所述第二端穿过所述第二孔。/n
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