[发明专利]用于检测颗粒的装置、系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580044164.7 申请日: 2015-08-20
公开(公告)号: CN106662519B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 安东尼·克林特·克莱顿;霍华德·杰罗姆·沃尔斯;兰达尔·J·纽森;保罗·G·赫兹 申请(专利权)人: 研究三角协会
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01N21/51;G01N21/64
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 裴金华
地址: 美国纽约研究三角园区康*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一颗粒检测器包括一壳体、一光源、以及一光电材料。该壳体包括一样本入口和一样本出口、以及包括一检测腔。该光源将照射光沿一纵轴直射该检测腔内一样本流体中的颗粒。该光电材料包围该检测腔的至少部分,接收自该颗粒且沿一组多条与该纵轴具有相对角度的测量光光路传播的测量光。该颗粒检测器可用于测量散射光和/或荧光发射光。流体样本可包括气溶胶、生物气溶胶、以及液体。
搜索关键词: 用于 检测 颗粒 装置 系统 方法
【主权项】:
一颗粒检测器,包括:一壳体,包括一样本入口和一样本出口、以及一腔长方向沿纵轴设置的检测腔,其中该壳体形成自该样本入口、流经该检测腔、至该样本出口的样本流体的一流体路径;一光源,配置用以使照射光直射至流于该检测腔内的该样本流体中的颗粒;以及一光电材料,在该检测腔的至少一个部分上包围该检测腔,其中该光电材料配置用以接收沿与该纵轴具有相对角度的一组多条测量光光路传播的颗粒测量光。
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