[发明专利]粒子检测传感器有效
| 申请号： | 201580043919.1 | 申请日： | 2015-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN106574898B | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 渡部祥文;松浪弘贵;赤坂修;冲田笃志;野村建太朗 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/53 | 分类号： | G01N21/53 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 高迪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 粒子检测传感器(1)具备，投光元件(121)、受光元件(131)以及处理部(620)，处理部(620)，执行判断处理，在判断处理中，对从检测信号的波形提取的多个波峰值与一个以上的第一阈值的相对关系进行校正，利用校正后的相对关系，针对多个波峰值的每一个，判断属于由第一阈值划分的多个波峰值分区之中的哪个波峰值分区，从而计算气体中的粒子的质量浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 检测 传感器 | ||
【主权项】：
1.一种粒子检测传感器，检测气体中包含的粒子，具备：投光元件；受光元件，接受因检测区域中的所述粒子而产生的所述投光元件的光的散射光；以及处理部，利用示出来自所述受光元件的输出的检测信号，计算所述气体中包含的所述粒子的质量浓度，所述处理部，执行：判断处理，针对从所述检测信号的波形提取的多个波峰值的每一个，判断属于由一个以上的第一阈值划分的多个波峰值分区之中的哪个波峰值分区；推测处理，利用通过所述判断处理针对所述多个波峰值分区的每一个判断出的所述波峰值的个数、以及所述多个波峰值分区的每一个中包含由一个以上的第二阈值划分的多个粒径分区的每一个的含有比率，推测所述多个粒径分区的每一个中的粒子数；以及计算处理，利用所述多个粒径分区的每一个中的粒子数，计算所述质量浓度。
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