[发明专利]样品测试方法、微流体装置和测试装置在审
| 申请号： | 201580043348.1 | 申请日： | 2015-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN106662523A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 朴相范;金贵炫;朴珠熙;朴姓河;李凡石;宋炅美;赵仪悬;金贺娜 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 金拟粲 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 样品测试方法、微流体装置和测试装置在不添加用于检测干扰物质的单独的试剂的情况下使用光学测量有效且准确地补偿样品中存在的干扰物质的干扰。所述样品测试方法包括测量样品中存在的靶物质的光学特征值；测量样品中存在的干扰物质的光学特征值；和基于干扰物质的光学特征值确定干扰物质对其的干扰被补偿的靶物质的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 测试 方法 流体 装置 | ||
【主权项】：
样品测试方法，包括：测量样品中存在的靶物质的光学特征值；测量样品中存在的干扰物质的光学特征值；以及基于干扰物质的光学特征值确定干扰物质对其的干扰被补偿的靶物质的浓度。
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