[发明专利]磁共振成像装置及磁共振成像方法在审

专利信息
申请号: 201580037706.8 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN106659419A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 平井甲亮 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 李国华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在一个激励RF脉冲之后,照射多个重聚焦RF脉冲的序列中,为了无论切片厚度、FOV等摄影条件如何,都能够抑制已知的磁场变形发生位置中的尖状伪影,通过在激励RF脉冲与最初的重聚焦RF脉冲之间,在相位编码方向及/或切片编码方向上施加在该位置上使横向磁化发生相位偏移的、微小的失相梯度磁场,从而对该位置上的NMR信号(回波信号)的信号值进行抑制,使尖状伪影降低。
搜索关键词: 磁共振 成像 装置 方法
【主权项】:
一种磁共振成像装置,其特征在于具备:摄像部,其具备静磁场发生部、梯度磁场发生部、高频磁场发生部及高频磁场检测部;和测量部,其按照摄影序列使各部动作并执行测量,所述摄影序列是自旋回波系序列,在所述自旋回波系序列的高频磁场脉冲间施加失相梯度磁场,以使发生磁场变形的磁场变形位置的回波信号降低。
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