[发明专利]用于配置X射线成像系统的方法和系统在审
| 申请号： | 201580035910.6 | 申请日： | 2015-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN106456100A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | G.梅克斯 | 申请（专利权）人： | 爱克发医疗保健公司 |
| 主分类号： | A61B6/04 | 分类号： | A61B6/04;A61B6/08;A61B6/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 申屠伟进;张涛 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 比利时;BE |
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| 摘要： | 一种监视从用于拍摄对象的X射线图像的X射线成像系统中的X射线源接收到的辐射量的方法，包括如下步骤‑从一个或多个深度照相机获得一个或多个深度图像；所述一个或多个深度照相机至少覆盖由所述X射线成像系统的X射线源的X射线束覆盖的区域；以及‑对着包括辐射测量室的表面或在该表面上定位所述对象；以及‑根据所述一个或多个深度图像和/或根据从所述一个或多个深度图像导出的单个深度图像来标识在所述对象下面的选择辐射测量室；以及‑激活所述选择辐射测量室。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 配置 射线 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种监视从用于拍摄对象的X射线图像的X射线成像系统中的X射线源接收到的辐射量的方法，包括如下步骤‑ 从一个或多个深度照相机（101、102、201）获得一个或多个深度图像（302、502）；所述一个或多个深度照相机至少覆盖由所述X射线成像系统的X射线源（108、208、808）的X射线束覆盖的区域（103、203、303）；以及‑ 对着包括辐射测量室（706）的表面或在该表面上定位所述对象；以及‑ 根据所述一个或多个深度图像（702）和/或根据从所述一个或多个深度图像导出的单个深度图像（702）来标识在所述对象下面的选择辐射测量室（710）；以及‑ 激活所述选择辐射测量室。
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