[发明专利]自动聚焦系统

摘要

一种自动聚焦装置，能够探测显微镜上样品的位置。所述样品可以包括安装在显微镜载玻片与盖玻片之间的样本或孔板内的样本。所述装置通过识别菲涅耳反射中折射率的界限来追踪样品的位置。折射率的变化可以与盖玻片的上部或底部、载玻片的上部、孔板的底部或孔板里面孔的底部相对应。使用光学相干断层扫描技术(OCT)，这些反射用于形成样品的深度扫描，其给出了相对物镜的这些表面的位置。所述装置通过补偿样品到物镜焦平面的任何位置变量，起到自动聚焦系统的作用。

主权项

1.自动聚焦装置，包括：光源(101)；光耦合器(112)，所述光耦合器具有第一端口、第二端口、第三端口和第四端口；其中从光源(101)输出的光束耦合至第一端口并分裂为第一光束和第二光束，所述第一光束输出至第二端口且所述第二光束输出至第三端口，且其中第四端口被耦合至分光仪的输入端；第一光纤准直器(106)，所述第一光纤准直器(106)用于通过分光镜(108)和显微镜物镜(103)将第一光束从光耦合器(112)的第二端口引导到样品上，其中该样品放在由可调显微镜平台(102)支撑的衬底上；第二光纤准直器(110)，所述第二光纤准直器(110)用于将第二光束从光耦合器(112)的第三端口引导到反光镜(111)上；其中，从样品反射回来的第一光束被引导回到第二端口并从第四端口射出，且从反光镜(111)反射回来的第二光束被引导回到第三端口并从第四端口射出；其中，基于来自反射的第一光束和第二光束的干扰信号，所述分光仪输出控制信号来控制所述可调显微镜平台(102)。