[发明专利]粒子追踪分析方法和用于检测及特征化纳米级粒子的装置有效
申请号: | 201580020968.3 | 申请日: | 2015-05-12 |
公开(公告)号: | CN106233120B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 哈诺·法其米格;玛格丽特·布克 | 申请(专利权)人: | 梅特里克斯微粒有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 邓斐 |
地址: | 德国梅*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种用于光学检测粒子(23)的方法及装置具有下列特征:(a)具有矩形截面、由黑色玻璃制成的组件壁(9)利用L形加热及冷却组件(1)而被装配在纵向表面及接合的横向表面上;(b)组件壁(9)中与形成组件壁(9)支座的横向表面相对的横向表面中央受到照射装置照射,并且通过观察装置于与所述照射装置的光轴呈直角处被观察;(c)通过控制装置,所述照射装置的焦点及所述观察装置的焦点可由马达移动至组件壁(9)所定义的三维线性区域中的任意点;(d)组件壁(9)中与所述照射装置的辐射可通过进入的所述光学玻璃窗(11)相对的表面在它的中心处还包含另一光学玻璃窗(11);(e)组件壁(9)的表面的温度是通过两个热敏电阻(8)来监测。 | ||
搜索关键词: | 散射 辅助 粒子 追踪 分析 pta 方法 用于 检测 特征 所有 类型 液体 纳米 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测及特征化组件壁(9)中悬浮液的所有类型液体中具有纳米量级的粒子(23)的装置,具有下述特征:a)具有矩形截面的组件壁(9),所述组件壁是由黑色玻璃制成并且具有烧结的光学玻璃窗,所述组件壁具有应用至纵向表面及接合的横向表面的L形加热与冷却组件(1),所述组件壁(9)是在支架基座(2)上承抵于所述横向表面,通过减振组件(4)以既定方式安装所述支架基座,b)所述组件壁(9)在所述横向表面上的中间处通过光学玻璃窗而受到照射装置照射,所述横向表面是位于形成所述组件壁(9)的支撑的横向表面的相对处,且所述组件壁是由观察装置通过另一光学玻璃窗以与所述照射装置的光轴呈直角而加以观察,c)所述照射装置的共同焦点及所述观察装置的焦点可由控制装置以机动化方式于所述组件壁(9)的空间内部区域移动至任意点,d)所述组件壁(9)中与所述照射装置照射通过的所述光学玻璃窗相对的表面在中间还具有另一光学玻璃窗,所述组件壁(9)的这个表面具有在外部覆盖它的相符纳米碳层(5),e)所述观察装置的所述光轴延伸通过的所述光学玻璃窗所在的所述组件壁(9)的所述表面是通过两个热敏电阻(8)而监测它的温度。
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