[发明专利]确定解剖细节的壁厚度的方法及对应的磁共振成像系统

摘要

一种用于通过磁共振成像来确定感兴趣对象的解剖细节的壁厚度的方法，包括以下步骤：定义表面表示上的第一位置和第二位置；生成感兴趣线结构；针对多个位置中的每个位置，确定法线方向；确定平均法线方向；确定平均成像平面；确定表示所确定的法线方向的角偏离的量度；基于所确定的量度，确定成像平面；确定所确定的法线方向与所述成像平面的偏离；采集针对所有成像平面的磁共振图像；并且根据在具有与具体位置处的所述法线方向的最低角偏离的该成像平面中采集的所述磁共振图像，确定所述具体位置处的所述壁厚度。

主权项

一种用于通过磁共振成像来确定感兴趣对象(20)的尤其是心脏的解剖细节(52)的壁厚度的方法，所述方法包括以下步骤：‑在所述解剖细节(52)的至少部分的表面表示上并且基于操作者输入，定义(82)所述表面表示上的至少第一位置(54)和第二位置(56)；‑生成(84)感兴趣线结构(60)，其中，所述线结构(60)包括所述表面表示上的多个位置(62)，包括所述第一位置(54)和所述第二位置(56)；‑针对所述多个位置(62)中的每个位置(62)，确定(86)垂直于所述位置(62)处的所述解剖细节(52)的表面的法线方向(64)；‑根据所述多个位置(62)的所确定的法线方向(64)确定(88)平均法线方向(66)；‑确定(90)平均成像平面(68)，其是由具有所述平均法线方向(66)的向量与被布置为平行于将所述第一位置(54)与所述第二位置(56)连接的直线的向量的线性生成定义的；‑确定(92)表示所述多个位置(62)的所确定的法线方向(64)距所述平均成像平面(68)的角偏离(Δβ_i)的量度；‑基于所确定的量度，确定(96)至少第二成像平面(70)，其中，通过关于由将所述第一位置(54)与所述第二位置(56)连接的所述直线给定的轴(58)旋转所述平均成像平面(68)来生成所述至少第二成像平面(70)；‑确定(98)表示所述多个位置(62)的所确定的法线方向(64)关于所述第二成像平面(70)的角偏离的所述量度；‑采集(100)针对所有成像平面(68、70)的磁共振图像；并且‑根据在所述成像平面(70)中的具有与特定位置(62)处的所述法线方向(64)的最低角偏离的该成像平面(70)中采集的所述磁共振图像，确定(102)所述多个位置(62)中的所述特定位置(62)处的所述壁厚度。