[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201580014094.0 申请日: 2015-03-09
公开(公告)号: CN106133526B 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 垂水信二;足立作一郎;薮谷千枝;牧野彰久 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N21/75
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 范胜杰,赵宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 自动分析装置具备反应容器,其用于使样本与试剂混合而发生反应;测定部,其向上述反应容器中的反应液照射光,并测定透射光量或散射光量;控制部,其对由上述测定部测定出的时序的光量数据进行处理;存储部,其存储1个以上的对上述光量数据的时序变化进行近似的近似函数;以及输出部,其输出上述控制部的处理结果。上述控制部进行如下处理选择上述存储部存储的上述近似函数中的某一个;使用上述选择出的近似函数,计算表示上述光量数据的时序变化的近似曲线;计算基于上述光量数据与上述近似曲线的偏离信息的偏离特征信息;以及使用上述偏离特征信息,对上述光量数据所包含的异常进行检测和分类。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
一种自动分析装置,其特征在于,该自动分析装置具备:反应容器,其用于使样本与试剂混合而发生反应;测定部,其向上述反应容器中的反应液照射光,并测定透射光量或散射光量;控制部,其对由上述测定部测定出的时序的光量数据进行处理;存储部,其存储1个以上的对上述光量数据的时序变化进行近似的近似函数;以及输出部,其输出上述控制部的处理结果,上述控制部进行如下处理:选择上述存储部存储的上述近似函数的某一个;使用上述选择出的近似函数,计算表示上述光量数据的时序变化的近似曲线;计算表示上述光量数据与上述近似曲线之间的误差的时序变化的时序误差数据;以及使用上述时序误差数据作为偏离特征信息,对上述光量数据中包含的异常进行检测和分类,上述控制部还进行如下处理:根据上述光量数据或上述近似曲线,计算预定的指标;根据上述时序误差数据,计算在上述光量数据内发生异常的异常发生范围;计算上述异常发生范围内的上述时序误差数据的特征量;以及使用上述特征量和上述指标,对上述异常进行分类,上述输出部输出与检测和分类后的上述异常相关的信息。
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